在使用偏光显微镜对宝石的光性、轴性进行侧试的过程中，要注意其适用范围及影响因素。

    (1)用偏光显微镜侧试的样品必须是透光性好(透明至半透明)，用于观察干涉图的样品必须是透明的。

    (2)样品不能太小，否则难以观察和解释。

    (3) 测定光轴时，样品在载物台上的位置要避免样品的光轴方向与观察方向一致。因为光波沿光轴方向传播时不发生双折射，此时转动360°，视域也是全暗的。因此，除了转动宝石外还应转换宝石的方位，以排除因光线沿光轴方向传播造成的假象。

    (4)侧试光轴时，宝石必须是透明的非均质体单晶。弧面形或圆珠形样品无需加透镜或干涉球也可出现干涉图(但观察方向筋大致沿光轴方向)。

    (5)具高折射率且切工好的样品(如钻石、合成碳化硅、桔石)应将台面朝上，若台面向下与载物台接触，会因全反射使视城全暗.误导观察结论。

    (6)其有策片双晶的样品或拼合石都可因不同部分消光方位不同而出现视域全亮。因此.观察时应排除其影响因众。多裂晾或多包班体的样品，因光在其中传播受到影响，导致视域明暗变化不正常。

    (7)有些均质体宝石如石榴石、玻璃、尖晶石、琥珀、欧泊等，可能出现许多不同的异常双折射现象，最好用二色镜、折射仪、显徽镜等进行验证。

    (8)黑十字形异常消光图无干涉色图(如玻璃)，而一轴晶干涉图却是黑十字与干涉色圈同时出现，应注竞区别，以免很淆。

    (9)侧试时最好周围无其他干扰光源，以免影响测试结果。