前而已经讲过，在单偏光显微镜和正交显微镜下可以观察到非均质体矿物的好多内容，例如晶体的形状，贝克线，突起，糙面，多色性，解理，消光现象，干涉色，延性符号和双品等等。但仍有一系列光性没有测定，如晶体的轴性－轴晶或二轴晶，光性符号—正光性或负光性，光轴角等。这些性质在锥光镜下可以解决。

    一、锥光的产生

    当用锥光时，即将载物台下的聚光镜加上，使由下偏光显微镜上来的平行偏光经过聚光镜后，形成向中央会聚的锥形光，即为锥光。

    此锥光交于焦点，又从焦点向四方散射，除中央一条光线为垂直不变外，其余的是倾斜散射，其倾斜角度越近，凸透镜边部愈大，但光线无论如何倾斜，其光波振摆方向仍是平行下偏光显微镜的振摆方向，并且是偏光。

    二、一轴晶干涉图

    在上面讨论中要用锥光时，是在正交偏光的情况下加人聚光镜。将接物镜换成高倍数的(60 x或45 x)，然后加上勃氏透镜，这样可见到一种特殊的图案，这种图案称为干涉图。

    均质体矿物，对任何方向的入射光线在正交偏光下永久消光，因此，就不产生干涉图。

    一轴晶与二轴晶各有不同特点的干涉图，且切片方向不同，干涉图形也不同，因此，可用干涉图来区别轴性，确定光率体方位及其他光学常数。