偏光显微镜下的压实作用与硅质胶结

    在偏光显微镜下，主要是由石英颗粒之间的接触关系赛判断压实作用程度的。颗粒接触紧密，压实作用强，颗粒是分散的，表明未经压实作用。在成岩过程中，有很多因家对正确判断压实作用起干扰作用，在颗粒接触关系上，有很多假象，特别是石英的次生加大，即硅质胶结，对压实作用的真实性起到的千扰因素最大。

    在碎屑岩储层中，硅质胶结作用有时非常发育，它可以把岩石的孔隙及喉道部分或全部充填胶结，使孔隙空间遭受严重破坏。硅质胶结通常以石英的次生加大形式出现而向着孔隙增长，以具有枯土质膜或不具有枯土质膜的产状形成于颗位周围。硅质胶结非常发育时，会从外表上改变顺粒之间的关系，使分散的颗粒变得紧密接触，形成压溶作用的假象。

    石英次生加大的硅质胶结物属于自生石英。压溶的假象在一般光学显微镜下有时很难识别，无法判断真实压溶作用的程度。自生石英与陆源石英在发光特点上有很大差别，这是确认压溶作用程度的一个有力依据，因此用阴极发光显微镜在分析观察石英的压溶作用时，可以获得一般偏光显微镜下所取不到的资料(图3-1)。图的上部是在偏光显微镜下的三个石英颗粒呈相互嵌人，这显然是压溶作用的特征。

    下部是在阴极发光显微镜下，每个石英都有两部分，碎屑部分发棕色光，加大部分不发光，不同的发光特征清楚的表明碎屑在加大之前是分散的，如“阴极发光显微镜下岩石薄片的使用需求”内容中介绍的。