偏光显微镜研究必须将试样制成厚度为0.03mm的薄片，以保证试样的透明度和测得光学性质的可比性。随着科学技术的发展，显微结构分析的要求更精细，由于0.03mm薄片中相邻物相的互相重叠而掩盖细小物相及细微结构，要求将试样制成厚度小于0.02mm的所谓超薄片。

    试样薄片的制备

    用切片机从试样上定向或不定向的切取一小块，并用粗金刚砂在膜片机上将小块试样两面磨成互相平行的厚度小于1mm的薄板，洗净后将其中一面再用从粗到细的金刚砂逐级研磨，并经M7-M7的细砂研磨后洗净烘干，用加拿大树胶黏贴在载玻璃片上并赶出气泡，粘固后再在磨片机上从粗到细用金剐砂逐级研磨试样薄板的另一面，将其磨至0.03mm的标准厚度，洗净并烘干，再用加拿大树胶覆盖上盖玻璃片即得试样薄片。

    在制备过程中要注意下述问题:①在研解过程中郁是用不同规格的金刚砂逐级进行的，每次更换较细金刚砂必须将原较粗金刚砂洗净，绝对不允许将粗砂带到下遭工序中去。②后道工序用较细砂研磨时，必须将较粗金刚砂划刻的沟痕全部磨掉，才能再换更细的金刚砂进行研磨。③检查薄片厚度是用偏光显微镜在正交偏光条件下，根据巳知双析射率且含量较多矿物的干涉色来确定的，常用的是石英及斜长石，在0.C3mm厚的薄片中它们的，高千涉色为一级黄白;④试样薄片是用加拿大树胶枯在盖玻璃片和载玻璃片之间的，加拿大树胶的烘烤必须掌握火候，烤得过老时树胶将性脆而容易碎脱落，过嫩树胶还是软性体薄片易滑动而破碎。